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振动控制-控制选项


Sine Notching and Random Response Limiting LR.jpg

LMS Test.Lab 下凹控制和随机响应限制

LMS Test.Lab下凹控制和随机响应限制使用户能够有效地防止过分试验。平均控制下信号等级与参考谱相当，但由于在试验对象存在共振现象，在试验对象的某些特殊点的响应情况可能大不相同。任何通道(控制或测试)的振动等级通过一个辅助参考谱加以限制，以最大程度地保护试件。

Combined Modes LR.jpg

组合模式

LMS Test.Lab正弦+随机(SoR)模块为用户提供了在背景噪声上叠加高达10个固定与扫描正弦的组合控制。LMS Test.Lab随机+随机(RoR)选项为用户提供了在背景噪声上叠加无限数的固定与扫描窄带信号的组合控制。LMS Test.Lab随机控制的两个选项都提供更复杂的复合定义能力，通常称为正弦+随机+随机(SoRoR)。

Shock Response Synthesis LR.jpg

LMS Test.Lab 冲击响应谱合成（SRS）

LMS Test.Lab冲击响应谱合成能够将使用一系列叠加的子波得到的用户定义的冲击响应综合为一个时域波形。合成模块无缝集成于冲击控制工作簿中。

Mission Synthesis LR.jpg

LMS Test.Lab 任务综合

LMS Test.Lab任务综合能够帮助用户由通过测试获得的载荷数据来定义单轴随机和扫频正弦振动试验的试验参数。所合成的试验参数在损伤上与实际相同，并且压缩了运行时间。工业标准的试验方法，如GAM EG-13、MIL-STD 810F和NATO AECTP 200用于实现这个目标。系统通过计算MRS(最大响应谱)和FDS(疲劳损伤谱)分析多种加速载荷环境(在时域或频域中定义)以得到潜在的疲劳损伤。

Single Axis Waveform Replication LR.jpg

LMS Test.Lab 单轴时域波形再现

LMS Test.Lab单轴时域波形再现通过几个简单的操作步骤就能够将试验现场数据加载到激振器上，并且使现有测试技术从传统的正弦、正弦驻留、随机和冲击控制拓展到长时间时域波形再现。Windows操作界面设计的软件操作简便易学，并帮助操作者非常安全地自动进行长时间的试验，LMS Test.Lab基于用户的工作流程界面能够协助用户完成整个试验。

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LMS TestLab sol Guide.jpg