大型复杂结构很难用足够的能量激励起来，LMS Test.Lab MIMO正弦扫描试验为基于FRF的分析提供了完整的解决方案。它使用了宽频带激励技术，适用于路径贡献分析的频响函数测量，部件连接点的点导纳测量以及悬置和衬套的复刚度测量。
通过用扫频正弦激励结构，LMS Test.Lab MIMO正弦扫频试验集合了正弦激励的高信噪比和宽频带试验的试验速度。在MIMO试验中，多组不同相位(在平均水平上下)的正弦扫描可以得到正确的频率响应函数。精确的正弦提取保证了响应谱没有泄漏，而先于正弦扫描而开始的系统识别过程可以帮助控制激励水平以及增加24位A/D转换器的动态范围。谐波失真以及激励量级控制可以深入了解结构的非线性特征。
LMS Test.Lab MIMO正弦扫频试验可以测量结构上不同点对于可控正弦激励的响应。此解决方案提供了一个直观的方法来定义通道、采集参数以及处理函数。在整个过程中，用户都会收到对参数定义的反馈，以便在试验真正开始前最大程度验证试验设置。系统识别过程可以周期随机激励来估计系统的FRF矩阵，同时还可以预测所有通道在正弦激励下的响应水平。在实际测量过程中，所有相关的信息都可以在线监测和显示。专用的确认表可以对测量的自由度进行总体观察，并确认它们上在结构中的位置。
LMS Test.Lab MIMO正弦扫频试验可与LMS Test.Lab工作变形分析和时域动画、LMS Test.Lab模态分析或者LMS Test.Lab几何联合使用，以实现更快的数据解释和分析。这些应用程序可以作为独立分析环境或者LMS Test.Lab MIMO正弦扫频试验的附加程序来使用。
